Compact Multi
此配置建議用于功能前測(cè)試、功能測(cè)試和組合測(cè)試。Compact MULTI 的多功能性和可擴(kuò)展性非常適合將外部?jī)x器、功能和技術(shù)集成到單個(gè)測(cè)試程序中。
它特別適用于設(shè)備、電路板功能測(cè)試臺(tái)的實(shí)現(xiàn)。 減少的占用空間和符合 WCM 標(biāo)準(zhǔn)，允許使用多個(gè)機(jī)柜，從而有機(jī)會(huì)為不同的電子行業(yè)實(shí)施非常復(fù)雜的測(cè)試臺(tái)。
Compact MULTI 特別適用于:
電路板功能測(cè)試
設(shè)備EOL測(cè)試
在板編程
ict/fun組合測(cè)試
自動(dòng)最終測(cè)試
自動(dòng)化測(cè)試序列的實(shí)現(xiàn)
特征
模擬總線和矩陣（S64N、S64A、S64F）
電源總線和矩陣（HRELE模塊）
數(shù)字總線和混合通道板（P32）
最多12個(gè)直流電源（APx、ALx）
集成在ACL模塊上的專有儀器
現(xiàn)成的儀器集成
通用在板編程器（最多并行8個(gè)）
委員會(huì)協(xié)議管理（串行、USB、CAN、LIN、K-line、GPIB等）
NI（Labview/Teststand）操作系統(tǒng)的功能測(cè)試序列
SEICA使用VIVA操作系統(tǒng)進(jìn)行ict和/或功能測(cè)試序列
模塊級(jí)自檢
帶或不帶上對(duì)比度的接收器
ODU連接器接口
條形碼和二維碼讀取管理
自動(dòng)統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)采集
